近期，中科院国家空间科学中心微波遥感技术院重点实验室吴季研究员(IEEE Fellow)率领其科研团队对干涉成像微波辐射计天线阵的分析方法进行深入研究，在已有理论基础上凝练出了采样灵敏度因子和不确定性因子，同时对综合阵因子的波束效率进行了重新定义。该项研究成果有助于促进圆环满阵在干涉成像微波辐射计领域的应用，所提出的分析方法对天线阵的选型和设计具有重要参考价值。